Cpk값에 따른 예상 불량율

1. Cpk

스펙(Spec)의 중심으로 부터 공정 분포의 평균치의 치우침이 있을 경우 공정 능력 측정방법

• 평균치가 좌측으로 치우침이 있는 경우: 규격 하한치를 벗어나는 불량 다수 발생
• 평균치가 우측으로 치우침이 있는 경우: 규격 상한치를 벗어나는 불량 다수 발생

2. Cpk  계산법

• Cpk = (1-k) Cp

• T= 규격의 공차 / M= 규격의 중심

 

3. Cpk에 따른 예상 불량율

Cpk	% Yield (양품율)	±에서 level과 관련된 표준편차(σ)	Defect Rate (불량율)
			%	PPM
0.50	86.64	1.5	13.36	133600
0.60	92.81	1.8	7.19	71900
0.70	96.43	2.1	3.57	35700
0.80	98.36	2.4	1.64	16400
0.90	99.31	2.7	0.693	6930
1.00	99.73	3.0	0.27	2700
1.10	99.90	3.3	0.967	967
1.20	99.968	3.6	0.0318	318
1.30	99.990	3.9	0.0096	96
1.33	99.9937	4.0	0.0063	63
1.40	99.9973	4.2	0.0027	27
1.50	99.9993	4.5	0.00068	6.8
1.60	99.9998	4.8	0.000159	1.59
1.67	99.999943	5.0	0.000057	0.57
1.70	99.999966	5.1	0.000034	0.34
1.80	99.999993	5.4	0.0000068	0.0668
1.90	99.9999988	5.7	0.0000012	0.012
2.00	99.9999998	6.0	0.0000002	0.002

 

Cpk에 따른 예상 불량율