1. 측정 및 분석/측정분석시스템_MSA
Cpk값에 따른 예상 불량율
1. Cpk 스펙(Spec)의 중심으로 부터 공정 분포의 평균치의 치우침이 있을 경우 공정 능력 측정방법 평균치가 좌측으로 치우침이 있는 경우: 규격 하한치를 벗어나는 불량 다수 발생 평균치가 우측으로 치우침이 있는 경우: 규격 상한치를 벗어나는 불량 다수 발생 2. Cpk 계산법 Cpk = (1-k) Cp T= 규격의 공차 / M= 규격의 중심 3. Cpk에 따른 예상 불량율 Cpk % Yield (양품율) ±에서 level과 관련된 표준편차(σ) Defect Rate (불량율) % PPM 0.50 86.64 1.5 13.36 133600 0.60 92.81 1.8 7.19 71900 0.70 96.43 2.1 3.57 35700 0.80 98.36 2.4 1.64 16400 0.90 99.31 2.7..
2022. 6. 8. 13:48
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